DLK51手动位移滑台采用高精度千分尺直接驱动，配备精密交叉滚柱导轨，定位精度达±0.005mm。硬质氧化铝合金主体兼具轻量化和高刚性，可选0.5μm分辨率微分头。适用于光学仪器校准、精密检测设备定位等微米级调节场景，是实验室和工业领域的高精度定位解决方案。

一、产品特点

1.千分尺直驱：消除传动背隙，微调分辨率0.01mm（可选0.5μm）

2.高刚性结构：整体硬质氧化处理，抗变形能力强

3.超精密导轨：交叉滚柱设计，运动平稳无晃动

4.模块化设计：支持多轴组合或旋转台集成

5.防尘密封：导轨全封闭，适合洁净环境

二、性能参数

1.重复定位精度：±0.005mm（恒温环境下±0.003mm）

2.最大负载：15kg（水平）/8kg（垂直）

3.行程范围：25-100mm（标准款可定制加长）

4.温度敏感性：≤0.1μm/℃（配隔热底座可优化）

5.千分尺规格：标配25mm行程，可选50mm长行程

三、核心应用

1.激光光学系统光路校准

2.显微成像平台精密对焦

3.半导体检测设备元件定位

4.计量仪器标准量块调整